رفتن به محتوای اصلی
استاندارد و ایمنی فناوری نانو
    • درباره ما
    • استاندارد
      • استاندارد ملی
      • استاندارد بین‌المللی
    • ایمنی
      • اخلاق
      • ایمنی شغلی
      • سلامت
      • قوانین و مقررات
      • محیط زیست
    • اخبار و رویدادها
      • اخبار ایران
      • اخبار جهان
      • مقالات و گزارش‌ها
    • مشارکت ها
      • H۲۰۳۰
      • IEC
      • سازمان VAMAS
      • شبکه INISS
    • تماس با ما
  • فرم جستجو

مطالب مرتبط
به‌روزرسانی مهم در دستورالعمل‌های کار با نانومواد از سوی گروه ایمنی نانو مواد بریتانیا

۲۷ آبان ۱۴۰۴

به‌روزرسانی مهم در دستورالعمل‌های کار با نانومواد از سوی گروه ایمنی نانو مواد بریتانیا
خارج شدن دی‌اکسید تیتانیوم از فهرست مواد مشکوک به سرطان‌زا در اروپا

۴ آبان ۱۴۰۴

خارج شدن دی‌اکسید تیتانیوم از فهرست مواد مشکوک به سرطان‌زا در اروپا
مقررات جدید EPA برای نانوپلاکت‌های گرافن

۳۰ شهریور ۱۴۰۴

مقررات جدید EPA برای نانوپلاکت‌های گرافن
آسیب‌زایی نانوالیاف‌ها بیشتر به شکل آن‌ها وابسته است تا ترکیب شیمیایی

۲۳ شهریور ۱۴۰۴

آسیب‌زایی نانوالیاف‌ها بیشتر به شکل آن‌ها وابسته است تا ترکیب شیمیایی
SCCS  ایمنی نانو هیدروکسی‌آپاتیت در محصولات بهداشت دهان و دندان را تأیید کرد

۱۴ مرداد ۱۴۰۴

SCCS ایمنی نانو هیدروکسی‌آپاتیت در محصولات بهداشت دهان و دندان را تأیید کرد
تصویربرداری از توزیع سه بعدی الکترون ها برای اهداف مترولوژی

۱۴ مرداد ۱۳۹۴


محققان با استفاده از میکروسکوپ الکترونی برای اولین بار موفق شدند از توزیع سه بعدی الکترون ها درون مولکول تصویربرداری کنند. برای این کار، مولکول ها که روی یک سطح تراز شدهاند در معرض تابش پرتو فرابنفش قرار میگیرند. در این حالت میتوان توزیع و تراز الکترون ها را با استفاده از اثر فتوالکتریک به تصویر کشید. به این فرآیند، توموگرافی اوربیتالی گفته میشود که توسط محققان دانشگاه صنعتی گِرز در اتریش ابداع شده است. در این پروژه جدید که محققان مؤسسه مترولوژی آلمان )PTB )نیز شرکت داشته اند این روش به گونه ای توسعه داده شده که امکان تصویربرداری سه بعدی فراهم شود.

این اندازه گیری توسط منبع نور مترولوژی )MLS )مؤسسه PTB در برلین انجام شده است که در آن از طیف سنجی الکترون ترویدال الکترواستاتیک و تابش تکفام آندوالتور در محدوده انرژیهای ۱۴ تا ۵۵ الکترون ولت استفاده شده است. این نوع طیف سنجی به محققان اجازه میدهد تا اندازه گیری انرژی و زاویه الکترون هایی را که در فرآیند نشر فوتونی ایجاد میشوند، انجام دهند. با این روش جدید میتوان جریان فوتونی از تابشهای برانگیخته شده را با استفاده از فتودیود نیمه هادی کالیبره شده بدست آورد که این کار با عدم قطعیت کمتر از یک درصد انجام شده است. با این کار میتواند جریان فوتونی و انرژی های فوتونی را برای اولین بار کالیبره کرد. محققان با این روش موفق شدند شدت نسبی فوتوالکترون را به عنوان تابعی از جهت الکترون های پخش شده در دو بعد در محیط بدست آورند. این اندازه گیری در سه بعد نیز انجام شده است بنابراین توزیع فتوالکترون ها در سه بعد به صورت منطق های بدست آمده است. این اندازه گیری ها با هدف استفاده در فرآیندهای مترولوژی انجام شده است به طوری که از این داده ها میتوان در بخش توسعه مواد نیمه هادی آلی روی سطوح فلزی استفاده کرد. این نتایج چشم اندازهای تازه ای به سوی ساخت ادوات فتوولتائیک ایجاد میکند. لازم به ذکر است که توموگرافی اوربیتالی یکی از راهبردهای بسیار جالب توجه در مترولوژی است.


منبع : ptb
پیوندها

ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

معاونت علمی و فناوری ریاست جمهوری

سازمان ملی استاندارد ایران

سایر پیوندهای مفید

گروه استاندارد و ایمنی

ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

تهران، خیابان ستارخان، خیابان شهید دکتر حبیب الله، بلوار شهید متولیان، پلاک ۹

تماس با ما

  • ۰۲۱-۶۳۱۰۰

  • ۰۲۱-۶۳۱۰۶۳۱۰

  • standard@nano.ir

© تمامی حقوق این پایگاه متعلق به ستاد ویژه توسعه فناوری نانو است